Reliability of MEMS / edited by Osamu Tabata and Toshiyuki Tsuchiya.
Tipo de material:
TextoSeries Advanced micro & nanosystems ; v.6Detalles de publicación: Weinheim : Wiley-VCH, c2008Descripción: xx, 303 p. : ill. ; 25 cmISBN: 9783527314942Tema(s): SISTEMAS MICROELECTROMECÁNICOS -- FIABILIDAD | MEMSClasificación CDD: 621
| Tipo de ítem | Biblioteca de origen | Signatura | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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LIBRO
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Biblioteca de la Facultad de Ingeniería UNMDP | 621.3 0 74 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Disponible | 6840 |
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"Testing of materials and devices"--Cover.
Includes bibliographical references and index.